Микроэлектроника : физические и технологические основы, надежность

Müəllif	Ефимов, И. Е.
Başlıq	Микроэлектроника : физические и технологические основы, надежность
Nəşr məlumatı	Москва : Высшая школа
Nəşr ili	1977
Fondun növü	Retro kitablar
Səhifə	416 səh.
Ölçüləri	22.00 sm
Tiraj	25000 nüsxə
Təsnifat göstəriciləri	Təsnifatı: 47.03.05 Universal Ondalıq Təsnifatı (UOT): 621. 3
Digər məsul şəxslər və qurumlar	Горбунов, Ю. И.
Dil	Rus dili

Микроэлектроника : физические и технологические основы, надежность / И. Е. Ефимов, Ю. И. Горбунов. - Москва : Высшая школа, 1977. - 416 с. : рис. , табл. ; 22 см. - 25 000 экз. . - (в пер. ) : 1. 30 р. - ГРНТИ 47. 03. 05 УДК 621. 3 полупроводниковые диоды Доп. точки доступа: Горбунов, Ю. И.

Tərəfindən: Ефимов, И. Е.