Библиографическая информация
| Автор | Ефимов, И. Е. |
|---|---|
| Название | Микроэлектроника : физические и технологические основы, надежность |
| Выходные данные | Москва : Высшая школа |
| Год издания | 1977 |
| Вид фонда | Ретро-книги |
| Страница | 416 с. |
| Размеры | 22.00 см |
| Тираж | 25000 экз. |
| Классификационные индексы |
|
| Доп. точки доступа | Горбунов, Ю. И. |
| Язык | Русский язык |
Микроэлектроника : физические и технологические основы, надежность / И. Е. Ефимов, Ю. И. Горбунов. - Москва : Высшая школа, 1977. - 416 с. : рис. , табл. ; 22 см. - 25 000 экз. . - (в пер. ) : 1. 30 р. - ГРНТИ 47. 03. 05 УДК 621. 3 полупроводниковые диоды Доп. точки доступа: Горбунов, Ю. И.
От: Ефимов, И. Е.
- Волноводные линии передачи...
- Конструктивные и электрические характеристики кабелей...
- Микроэлектроника : проектирование, виды микросхем, новые...
- Микроэлектроника : проектирование, виды микросхем, функциональная - 2-е изд., перераб. и доп...
- Многослойные провода...






