Микроэлектроника: физические и технологические основы, надежность / И. Е. Ефимов, Ю. И. Горбунов. - Москва: Высшая школа, 1977. - 416 с. : рис. , табл. ; 22 см. - 25 000 экз. . - (в пер. ): 1. 30 р. - ГРНТИ 47. 03. 05 УДК 621. 3 полупроводниковые диоды Доп. точки доступа: Горбунов, Ю. И.


Aggression of Armenia against AzerbaijanHerbi tecavuzstartup2https://www.epo.org/index.htmlhttps://www.eapo.org/ru/
поиск×