Надежность интегральных полупроводниковых схем / И. Е. Ефимов, И. Г. Кальман. - Москва: Комитета стандартов мер и измерительных приборов при совете министров СССР, 1968. - 73 с. : рис. , табл. ; 21. 5 см. - 5000 экз. . - 0. 23 р. - ГРНТИ 29. 19. 31 УДК 621. 3 микроэлектроника Доп. точки доступа: Кальман, И. Г.
Ефимов, И. Е.
Tərəfindən: Ефимов, И. Е.
- Волноводные линии передачи / И. Е. Ефимов. - Москва : Связь, 1979. - 232 с. : рис. ; 22 см. - 3600 экз.. - 1.10 р....
- Конструктивные и электрические характеристики кабелей связи / И. Е. Ефимов, м. А. Климов и др. - Москва : Связьиздат,...
- Микроэлектроника : проектирование, виды микросхем, новые направления / И. Е. Ефимов, Ю. И. Горбунов. - Москва : Высшая...
- Микроэлектроника : проектирование, виды микросхем, функциональная микроэлектроника / И. Е. Ефимов, И. Я. Козырь ; рец....
- Микроэлектроника : физические и технологические основы, надежность / И. Е. Ефимов, Ю. И. Горбунов. - Москва : Высшая...
