Надежность интегральных полупроводниковых схем / И. Е. Ефимов, И. Г. Кальман. - Москва : Комитета стандартов мер и измерительных приборов при совете министров СССР, 1968. - 73 с. : рис. , табл. ; 21. 5 см. - 5000 экз. . - 0. 23 р. - ГРНТИ 29. 19. 31 УДК 621. 3 микроэлектроника Доп. точки доступа: Кальман, И. Г.